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聚焦離子束（FIB）

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聚焦離子束FIB在材料科學(xué)中的應(yīng)用與實踐

聚焦離子束 FIB 在材料科學(xué)中的應(yīng)用與實踐聚焦離子束技術(shù)（ Focused Ion Beam, FIB ）在材料科學(xué)領(lǐng)域扮演著至關(guān)重要的角色，它利用高能離子束精確地對材料進(jìn)行微納尺度的加工、分析和修改； FIB 技術(shù)的出現(xiàn)極大地推動了納米科技的發(fā)展，尤其是在樣品制備、微納結(jié)構(gòu)加工、故障分析...

2024-12-25

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FIB無敵折扣，盡享省心測試之旅，快來下單吧！

2024-11-14

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聚焦離子束FIB的優(yōu)勢與挑戰(zhàn)：技術(shù)優(yōu)缺點(diǎn)探討

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2024-09-05

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FIB聚焦離子束技術(shù)在檢測樣品時樣品的制備流程解析

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2023-12-18

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聚焦離子束（FIB）助力新型材料研究與開發(fā)

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2023-12-05

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FIB + SEM/TEM: 能量超乎你的想象！

為充分理解材料的“結(jié)構(gòu)-組成-性能”三要素之間的關(guān)系，科學(xué)界發(fā)展了許多成像和組分分析技術(shù)，SEM和TEM就是表征這方面的常用儀器。SEM能夠?qū)Σ牧媳砻娴慕Y(jié)構(gòu)形貌和成分組成進(jìn)行分析，但是無法獲取材料內(nèi)部信息；TEM雖然能夠?qū)Ψ从吵鰳悠穬?nèi)部及表面信息的薄膜樣品進(jìn)行形貌、成分和結(jié)構(gòu)分析，但是前提是要制備...

2023-11-23

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2023-11-21

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FIB-SEM電鏡技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用及優(yōu)勢

FIB-SEM 電鏡技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用及優(yōu)勢掃描電子顯微鏡（ SEM ）是一種廣泛應(yīng)用于材料表面形貌、形變及組成分析的設(shè)備。然而，在處理一些復(fù)雜、不規(guī)則的樣品以及需要進(jìn)行精細(xì)切割、觀察內(nèi)部結(jié)構(gòu)的樣品時，傳統(tǒng)的 SEM 存在局限性。為了克服這些限制，聚焦離子束 - 掃描電子顯微鏡（ FIB-...

2023-10-08

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