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              距失效
              
                    
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              當前位置：材料測試 ?  顯微成像 ? 
              
                
              場發(fā)射掃描電鏡（SEM）
              
            
              
            
              
                
              
                    
              
                        
              
                            
              99.4%
              滿意度
              
                            
              
                            
              
                                
                                
                            
              
                            
              
                                
              場發(fā)射掃描電鏡（SEM）
              
                                
                                
              
                                    
              已 預 約：
              
                                    
              48133次
              
                                
              
                                
              
                                    
              服務周期：
              
                                    
              平均4個工作日完成
              
                                
              
                                
              
                                        
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                                                立即下單
                                            
                                                                                          
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              如有各類設備采購需求，請聯系專屬顧問。
              
                            
              
                        
              

                        
                        
                        
                        
                        
                        
                        
                    
              

                    
                    
                    
                    
              
                            
                            
              
                                
              李娟
              
                                
              SEM測試工程師
              
                                
              7年掃描電鏡（SEM）工作經驗。精通掃描電子顯微術對材料微結構表征，具備復合物、非金屬材料及金屬材料微觀結構的豐富理論和實操經驗。
              
                            
              
                        
              

                    
              
                        
              項目介紹
              
                        
              場發(fā)射掃描電子顯微鏡（SEM），是一種用于高分辨形貌觀察的大型精密儀器。它具有大景深、高分辨率、成像直觀、立體感強、放大倍數范圍寬，以及待測樣品可在三維空間內旋轉和傾斜等特點。此外，SEM的優(yōu)勢還包括可測樣品種類豐富、幾乎不損傷和污染原始樣品，以及可同時獲得形貌、結構、成分和結晶學信息等。目前，掃描電子顯微鏡已被廣泛應用于生命科學、物理學、化學、司法、地球科學、材料學以及工業(yè)生產等領域的微觀研究。 
              
                    
              
                    
              
                        
              樣品要求
              
                        
              1. 如提供TEM的形貌圖片，無參考意義；
              2. 塊體、片狀、薄膜尺寸小于1*1*0.5cm；粉末樣品大于10mg；
              3. 塊體、片狀、薄膜樣品請標注測試面；粉末不能測試線掃；
              4. 含水樣品請自行干燥后送樣；
              5. 需備注照片倍數；每個樣最多10張，需要張數請備注；
              6. 能譜備注理想區(qū)域，如有標尺要求請備注，如果沒有備注，常規(guī)測試；
              7. 1-4號元素不能測試能譜；BCNOF等超輕元素能譜測試不準，望知曉；
              8. 圖片不再區(qū)分最小標尺，最高倍數20萬倍，取消500nm和100nm的區(qū)別；
              9. 送樣請先檢測磁性并如實告知，因為磁性未說明而損傷儀器，需要承擔維修費用；
              10. 關于冷場熱場，下單請注明，無說明的，則隨機安排；
              11. 能譜圖上會有文字，不要文字的需要自己處理；
              12. 若有預期的形貌和標尺、放大倍數，最好在訂單中以文字說明；
              13. 一些儀器由于軟件限制，一些標尺無法輸出；
              14. 能譜說明：點掃、線掃、面掃分別按照一個點、一條線、一個面計費，僅提供一張形貌圖，并只用于展示測試位置。多個能譜按照個數計費。
              
                    
              
                    
              
                            
              項目案例
              
                            
              
                                
              
                                    
              
                                            
                                            
              非磁性材料微球狀形貌
              
                                        
              
                                            
                                            
              非磁材料形貌
              
                                        
              
                                            
                                            
              磁性材料形貌
              
                                        
              
                                            
                                            
              強磁材料高倍20w倍形貌
              
                                        
              
                                            
                                            
              銅摻雜改性材料點掃圖譜結果
              
                                        
              
                                            
                                            
              金屬摻雜改性材料線掃圖譜結果
              
                                        
              
                                            
                                            
              銅摻雜改性材料面掃圖譜結果
              
                                        
              
                                            
                                            
              Carbon 159(2020)366-377:GF/FeS2@C形貌
              
                                        
                                              
              
                            
              
                        
                                  
              
                            
              常見問題
              
                            
              
                                
              
                                        
              1、SEM什么情況下需要噴金？噴金能達到什么目的？對樣品有影響嗎？
              
                                        
              噴金工序一般適用于樣品不導電或導電性不好的樣品，在樣品表面濺射一層薄薄的金層，噴金時間因儀器差別而有所不同。噴金最直觀的目的就是圖片質量上去了，倍數能更好了，其原理是減弱了不導電或者導電性弱的樣品表面的荷電效應，主要的影響是較高倍數（20萬倍）下能看到些樣品表面的金顆粒，EDS能譜中有明顯的金峰存在。
              
                                    
              
                                        
              2、SEM圖片出現異常反差“一部分異常亮，一部分異常暗”，“圖像畸變”，“圖像漂移”，“圖片不清晰”等問題怎么解釋？
              
                                        
              上述問題也就是荷電效應造成的，電荷在樣品表面累積產生靜電場，干擾入射電子的發(fā)射，從而對圖片質量造成影響。主要解決辦法：①噴金、噴鉑、噴銀或噴碳，②縮小樣品尺寸，減少接觸電阻。
              
                                    
              
                                        
              3、圖片亮度偏暗或偏亮，或圖片立體感不強，是什么原因？
              
                                        
              上述問題主要是不同實驗室老師的習慣不同，對明暗的把控也不相同。這種問題一般的很好處理，簡單用PPT軟件處理圖片的亮度、對比度就可以。
              
                                    
              
                                        
              4、EDS主要有哪幾種？主要區(qū)別是？
              
                                        
              EDS有三種，點掃、線掃、面掃（mapping）。點掃：像素點下的一個元素組成和元素相對含量情況；線掃：路徑上面的一個元素相對強度的變化情況；面掃（mapping）：元素在一個視野范圍內的分布情況。
              
                                    
              
                                        
              5、為什么有的EDS有很強的峰，卻沒有標注元素類型？
              
                                        
              有以下幾種可能：①樣品噴過金，峰是金峰；②可能是樣品里面其他元素未關注的峰；③也可能是引入了雜質（可能性較小）。
              
                                    
              
                                        
              6、EDS為什么一個元素會對應多個峰位？
              
                                        
              核外電子躍遷類型不同，或者說滿足躍遷選律（指電子層KLMN）的不止一種，每一種躍遷類型對應不同的能量。
              
                                    
              
                                        
              7、有哪些材料一定需要噴金呢？
              
                                        
              不清楚導電性的樣品，沒有特殊要求的一律建議噴金。比較迷惑的樣品是金屬氧化物，這類樣品看起來導電性還行，但是做SEM基本上導電性都很差，都需要噴金。
              
                                    
              
                                        
              8、SEM一般送多大尺寸的樣品？厚度極限是多少？
              
                                        
              粉末要求幾毫克就夠的，固體理想尺寸1*1cm、厚度0.5cm以下，長寬厚極限尺寸是3*3*0.5cm。
              
                                    
              
                                        
              9、SEM的倍數和標尺是對應的嗎？
              
                                        
              沒有一個準確的對應關系，各儀器軟件的對應各不相同，主要取決于儀器軟件，給要求的時候只能限制一個關系。
              
                                    
              
                                        
              10、EDS數據的橫縱坐標是什么意思？
              
                                        
              橫坐標是能量energy/kev，縱坐標是計數counts/cps。
              
                                    
                                          
              
                        
                                                  
              
                
            
              
        
              
        
        
              
            
              
                
              
                    
              場發(fā)射掃描電鏡（SEM）
              
                                                                        
              
                                立即下單
                            
                              
              
            
              
        
              
    
              










    
    
    
    
    



    


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