預(yù)存
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              Document

              現(xiàn)場

              空調(diào)、WIFI、小零食、用心服務(wù)

              成都現(xiàn)場地址: 成都市武侯區(qū)武科西二路8號2棟1樓

              云現(xiàn)場

              2K高清畫質(zhì),實(shí)時溝通,身臨其境

              FIB儀器介紹

              場發(fā)射掃描電鏡

              儀器名稱:聚焦離子束(FIB)

              型號:Thermo Scientific Helios 5 CX

              主要參數(shù):

              電子束分辨率0.6nm@15kV,離子束分辨率2.5nm@30kV,樣品臺110mmx65mm,Auto TEM:自動TEM切樣。

              TEM儀器介紹

              場發(fā)射掃描電鏡

              儀器名稱:透射電子顯微鏡(成都)

              型號:TALOS F200S G2

              主要參數(shù):

              Super-X EDS 系統(tǒng),配置對稱的SDD能譜探頭 加速電壓 200 kV
              TEM 信息分辨率 0.12 nm
              STEM HAADF 分辨率 0.16 nm

              SEM儀器介紹

              場發(fā)射掃描電鏡

              儀器名稱:場發(fā)射掃描電鏡(成都)

              型號:賽默飛Apreo 2C
              主要參數(shù):
              放大倍數(shù)30倍~100萬倍;分辨率最低可到1.0nm;
              磁性非磁均可測試

              儀器名稱:場發(fā)射掃描電鏡(北京)

              型號:賽默飛Apreo 2S
              主要參數(shù):
              放大倍數(shù)30倍~100萬倍;分辨率最低可到1.0nm;
              弱磁非磁均可測試
              能譜儀

              AFM儀器介紹

              場發(fā)射掃描電鏡

              儀器名稱:原子力顯微鏡(AFM)

              型號:Brucker Icon

              主要技術(shù)指標(biāo):

              樣品臺尺寸:3.5-105mm
              測量范圍:
              ■ XY方向掃描范圍500nm-90um;
              ■ 正方向掃描范圍2um

              團(tuán)隊(duì)介紹

              李  娟

              李 娟

              從事SEM分析測試6年,多次參與CMA資質(zhì)認(rèn)證

              王宇婷

              王宇婷

              從事TEM分析測試4年,擅長多種材料的分析測試

              王飛

              王飛

              從事FIB分析測試6年,熟練操作多種型號的FIB設(shè)備

              蒲洪飛

              蒲洪飛

              從事ICP分析測試5年,熟練操作多種型號的ICP設(shè)備

              現(xiàn)場測試流程

              1.溝通預(yù)約

              聯(lián)系技術(shù)經(jīng)理預(yù)約 或直接下單

              溝通預(yù)約

              2.測試下單

              項(xiàng)目:FIB現(xiàn)場/SEM現(xiàn)場/TEM現(xiàn)場

              測試下單

              3.到場測試

              帶上樣品,按照預(yù)約 時間,到現(xiàn)場測試

              到場測試

              4.結(jié)算

              測試完成結(jié)算

              結(jié)算

              云現(xiàn)場測試流程

              1.溝通預(yù)約

              聯(lián)系技術(shù)經(jīng)理預(yù)約 或直接下單

              溝通預(yù)約

              2.測試下單

              項(xiàng)目:FIB云現(xiàn)場/TEM云現(xiàn)場/SEM云現(xiàn)場

              測試下單

              3.樣品送樣

              郵寄寄樣或上門取樣

              樣品送樣

              4.到樣測試

              視頻測試

              到場測試

              5.結(jié)算

              測試完成結(jié)算

              結(jié)算
              樣品要求:
              FIB樣品
              TEM樣品
              SEM樣品
              EBSD樣品
              AFM樣品

              粉末

              樣品5μm及以上尺寸,無磁性;

              薄膜/塊體樣

              最大尺寸2cm,高度3mm,可以有磁性;

              包樣樣品

              加工成品大小小于5μmx5μm;

              其他

              樣品導(dǎo)電性良好,強(qiáng)磁樣品的盡量讓尺寸更小。

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