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              FIB-SEM電鏡技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用及優(yōu)勢
              來源: 時間:2023-10-08 15:56:19 瀏覽:3351次

              FIB-SEM電鏡技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用及優(yōu)勢


              掃描電子顯微鏡SEM)是一種廣泛應(yīng)用于材料表面形貌、形變及組成分析的設(shè)備。然而,在處理一些復(fù)雜、不規(guī)則的樣品以及需要進行精細(xì)切割、觀察內(nèi)部結(jié)構(gòu)的樣品時,傳統(tǒng)的SEM存在局限性。為了克服這些限制,聚焦離子束-掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)應(yīng)運而生。


              FIB-SEM電鏡原理


              FIB-SEM電鏡的組成及原理

              FIB-SEM電鏡是一種集聚焦離子束FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)于一體的分析設(shè)備。FIB-SEM通過聚焦離子束對樣品進行局部放電,實現(xiàn)對樣品的切割、銑削、拋光等處理,同時利用掃描電子顯微鏡對樣品表面進行觀察和分析。

              聚焦離子束原理

              聚焦離子束是一種高能密度的離子束,通過將離子束聚焦在納米至微米尺度,實現(xiàn)對樣品的高精度切割和處理。在FIB-SEM電鏡中,聚焦離子束通常由液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生,通過加速電壓將其引導(dǎo)至樣品表面。聚焦離子束具有高能量密度、高束流穩(wěn)定性和可調(diào)束徑等優(yōu)點,使其成為一種非常有效的樣品制備手段。

              掃描電子顯微鏡原理

              掃描電子顯微鏡是一種利用電子束掃描樣品表面,通過觀察樣品產(chǎn)生的二次電子或反射電子來獲取樣品表面形貌信息的設(shè)備。在FIB-SEM電鏡中,掃描電子顯微鏡與聚焦離子束共用一個樣品腔,可以實現(xiàn)對樣品的實時觀察和分析。


              FIB聚焦離子束


              FIB-SEM電鏡的優(yōu)勢

              高分辨率

              FIB-SEM電鏡具有較高的空間分辨率,可以觀察到納米至微米尺度的樣品細(xì)節(jié)。此外,通過聚焦離子束的精細(xì)加工,可以實現(xiàn)對樣品的高精度切割和觀察。

              高效率

              FIB-SEM電鏡可以實現(xiàn)對樣品的實時切割、拋光和觀察,提高了樣品制備和分析的效率。

              多功能

              FIB-SEM電鏡集聚焦離子束和掃描電子顯微鏡于一體,可以實現(xiàn)對樣品的切割、拋光、焊接等多種處理,以及表面形貌、組成和結(jié)構(gòu)等多方面的分析。

              適應(yīng)性廣

              FIB-SEM電鏡可以對各種材料進行分析,包括金屬、陶瓷、聚合物等,具有較強的適應(yīng)性。

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              全部 3小時前 四川
              文字是人類用符號記錄表達信息以傳之久遠的方式和工具。現(xiàn)代文字大多是記錄語言的工具。人類往往先有口頭的語言后產(chǎn)生書面文字,很多小語種,有語言但沒有文字。文字的不同體現(xiàn)了國家和民族的書面表達的方式和思維不同。文字使人類進入有歷史記錄的文明社會。
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