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              2024-12-03

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              2024-11-27

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              2024-09-29

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              2024-01-19

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              2023-12-14

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              2023-12-14

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              表面分析利器——TOF-SIMS飛行時間二次離子質譜儀

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              2023-12-11

              4822次瀏覽

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              TOF-SIMS幾種不同濺射源的選擇

              TOF-SIMS最早應用于靜態SIMS,但隨著技術的發展迭代,TOF-SIMS也配備了濺射源,用于深層界面的分析和深度剖析。目前用于濺射的主要有雙束離子源(DSC)、氣體團簇離子源(GCS)、FIB三種,本文將以M6為原型介紹這三種濺射源的性能、參數和實際應用。 雙束離子源(DSC O2/Cs) ...

              2023-12-11

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