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當(dāng)前位置：同步輻射 ? 散射/衍射 ?

同步輻射散射數(shù)據(jù)處理

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同步輻射散射數(shù)據(jù)處理

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同步輻射散射/衍射項(xiàng)目

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項(xiàng)目介紹

掠入射X射線散射（GIXS）包括廣角散射GIWAXS和小角度散射GISAXS，是基于同步輻射光源的X射線散射技術(shù)，用于表征表面或薄膜中的納米級密度相關(guān)性、納米物體的形狀、以及晶格中的原子和分子距離，被廣泛的應(yīng)用于研究有機(jī)太陽能電池和鈣鈦礦太陽能電池的形貌特征，晶體結(jié)構(gòu)等。

比如在OPV材料結(jié)構(gòu)研究中，GIWAXS被用來探測分子尺度、結(jié)構(gòu)信息，常用于研究有機(jī)給體和受體材料在活性層中的分子堆疊，如結(jié)晶度、晶格常數(shù)和取向性。GISAXS可以看作是傳統(tǒng)小角散射和全反射測量的結(jié)合，能夠獲得表面、薄膜、覆蓋層中的納米結(jié)構(gòu)（如納米顆粒、量子點(diǎn)等）的尺寸分布、形狀以及排列分布的相關(guān)信息。

提供優(yōu)質(zhì)快速的GIXS測試和數(shù)據(jù)分析服務(wù)，目前已經(jīng)為南昌大學(xué)、南京理工、華南理工、電子科大等眾多OPV和鈣鈦礦課題組開展了測試服務(wù)合作。

樣品要求

1.請?zhí)峁y試條件，波長，std距離，q值范圍，掠入射角度等，如在測試GO平臺測試，提供訂單號即可；

2.默認(rèn)每個(gè)樣品提供一個(gè)數(shù)據(jù)處理，對應(yīng)一個(gè)曝光時(shí)間，如需對同樣品進(jìn)行多曝光時(shí)間數(shù)據(jù)處理，請?zhí)崆芭c負(fù)責(zé)人聯(lián)系確認(rèn)，費(fèi)用有所疊加；

3.數(shù)據(jù)處理提供2D圖以及1D積分圖，默認(rèn)為面內(nèi)外積分，如需角度積分，另收費(fèi)，請?zhí)崆芭c負(fù)責(zé)人聯(lián)系；

4.數(shù)據(jù)處理請?zhí)峁﹨⒖嘉墨I(xiàn)圖，由于受出圖軟件限制，部分字體字號要求無法達(dá)到，2D圖橫坐標(biāo)默認(rèn)單位nm^-1，需要其他單位請自行PS處理；

5.2D圖出圖默認(rèn)信號最清晰的標(biāo)尺，如需同組樣品同標(biāo)尺下對比，請?zhí)崆白⒚鹘M數(shù)。

6.對數(shù)據(jù)格式，數(shù)據(jù)處理有疑問請自行瀏覽數(shù)據(jù)說明；

7.有任何相關(guān)測試問題不明確，請聯(lián)系負(fù)責(zé)人解答。

項(xiàng)目案例