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              當前位置:材料測試 ?  顯微成像 ? 

              電子通道襯度成像(ECCI)

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              電子通道襯度成像(ECCI)

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              如有各類設備采購需求,請聯系專屬顧問。
              項目介紹

              ECCI,全寫為electron channeling contrast imaging,即電子通道襯度成像。

              ECCI可以進行下列測試表征:

              1)原位試驗(暫無測試): 單軸、多軸、循環變形等試驗,ECCI擁有原位表征能力,可以分析同一區域在不同變形階段的位錯表現;

              2)位錯統計:ECCI表征面積較大,可以對一定范圍內的位錯進行定量或者半定量分析;

              3)特定位置位錯分析:ECCI不需要減薄,即可以對裂尖、特定取向晶粒、應力集中位置等特殊位置的位錯進行表征;

              4)環境試驗:ECCI可以對腐蝕環境下的變形和失效樣品位錯進行表征。

              樣品要求

              1. 樣品應為晶體材料,表面具有良好的晶體結構;

              2. 樣品尺寸小于1  x 1  x 0.5cm;EBSD測試后的樣品可直接測試;

              3. 需要對樣品進行拋光處理,獲得平整的表面;

              4. 給出拍攝倍數要求和圖片張數要求;目前最多10張圖。

              項目案例

              Dislocation cells

              Dislocation cells with one activated twin system

              Dislocation cells with two activated twin systems

              常見問題
              1、電子通道襯度成像(ECCI)技術的優勢?

              (1)樣品制備簡單和非破壞性:相比于透射電鏡技術復雜的樣品制樣過程,用于ECCI表征的樣品制備過程非常簡單,只需將塊狀樣品的表面拋光至鏡面即可;對于特定取向的晶粒、應力集中區、失效開裂區的缺陷分析,ECCI 技術也只要通過常規的樣品制備就可實現觀察,無需FIB技術定點制備薄片樣品;由于制樣過程無需破壞樣品,在ECCI表征后樣品還可進行后續實驗;

              (2)高通量分析:結合掃描電鏡的大視野和大像素成像技術特點,ECCI技術可實現大面積高通量的晶體缺陷采集,為實現晶體缺陷的統計分析提供可能;

              (3)更高的分析靈敏度和分辨率,更高效率:ECCI技術利用掃描電鏡高分辨成像,其數據采集效率高,圖像分辨率高,對材料的形變靈敏,即使材料內部有較小的形變,也將在ECCI圖像中看出端倪。

              電子通道襯度成像(ECCI)

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