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                詳解STM與AFM在納米尺度下的成像原理和應用有何異同點
                來源: 時間:2023-11-29 14:48:49 瀏覽:4378次

                詳解STMAFM在納米尺度下的成像原理和應用有何異同點

                 

                掃描隧道顯微鏡Scanning Tunneling Microscope,簡稱STM)和原子力顯微鏡Atomic Force Microscope,簡稱AFM)是兩種常見的納米尺度成像和測量技術,它們在納米科技領域具有廣泛的應用本文將詳細介紹STMAFM的成像原理、應用以及兩者之間的異同。




                一、成像原理

                1. STM成像原理

                STM利用量子隧道效應實現對樣品表面的原子級分辨率成像STM中,一個極細的金屬探針與被研究物質表面非常接近(通常小于1nm),形成一個納米間隙,在外加電場的作用下,電子會穿過這個間隙流向另一電極,隧道電流與間隙大小呈指數關系,從而可以獲得原子級分辨率的樣品表面形貌特征圖像。

                2. AFM成像原理

                AFM利用原子間相互作用力實現對樣品表面的原子級分辨率成像AFM中,一個懸空的探針與被研究物質表面接觸,探針在表面掃描過程中,通過檢測探針與樣品之間的原子間力(如范德華力、氫鍵等)的變化,實現對樣品表面形貌的原子級分辨率成像。

                 

                二、應用異同點

                1. 應用范圍

                相同點:STMAFM均可以實現對納米尺度樣品的原子級分辨率成像,廣泛應用于物理學、材料科學、化學、生物學等領域。

                不同點:STM主要用于研究固體表面,特別是半導體、金屬等導電材料由于STM需要外加電場,因此不適用于非導電材料AFM則適用于各種材料,包括非導電材料,其應用范圍更廣泛。

                2. 成像速度和分辨率

                相同點:STMAFM均可以實現高分辨率的成像。

                不同點:STM成像速度相對較慢,因為需要在納米間隙中調節隧道電流,以獲取清晰的圖像AFM成像速度相對較快,因為探針與樣品之間的相互作用力較強,信號變化更為明顯在相同分辨率下,AFM的成像速度通常優于STM

                3. 樣品制備和操作難度

                相同點:STMAFM都需要對樣品進行適當的制備,以保證探針與樣品之間的良好接觸。

                不同點:STM操作過程中,需要精確控制探針與樣品表面的距離,以實現清晰的成像,操作難度較高;AFM操作相對簡單,但由于探針與樣品之間的相互作用力可能受到環境因素(如溫度、濕度等)的影響,因此需要對儀器進行定期校準。

                4. 數據分析

                相同點:STMAFM均可提供有關表面形貌、原子排列等方面的詳細信息。

                不同點:STM數據分析主要基于隧道電流,可獲得有關電子密度、電子傳輸等方面的信息AFM數據分析基于探針與樣品之間的相互作用力,可獲得有關表面硬度、彈性模量等方面的信息。

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                全部 3小時前 四川
                文字是人類用符號記錄表達信息以傳之久遠的方式和工具。現代文字大多是記錄語言的工具。人類往往先有口頭的語言后產生書面文字,很多小語種,有語言但沒有文字。文字的不同體現了國家和民族的書面表達的方式和思維不同。文字使人類進入有歷史記錄的文明社會。
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