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                一文認識TOF-SIMS
                來源:本站 時間:2019-10-25 15:25:55 瀏覽:13802次

                一、TOF-SIMS的原理及特點

                飛行時間-二次離子質譜儀(TOF-SIMS),是一種非常靈敏的表面分析技術。它利用一次離子激發樣品表面微量的二次離子,根據二次離子飛行到探測器的時間不同來測定離子質量。由于TOF-SIMS中離子飛行時間只依賴于它們的質量,故其一次脈沖就可得到一個全譜,離子利用率很高,能實現對樣品幾乎無損的靜態分析

                二次離子質譜的工作原理


                TOF-SIMS具有檢測極限極低分辨率極高等優點,能實現在2-3個原子層對樣品進行檢測并給出二維和三維圖像信息。目前TOF-SIMS主要用于有機樣品的表面分析,如生物藥品的有機物分析、半導體材料的污染分析、儲能材料分析及有機分子碎片鑒定等。隨著技術的改善,分析區域越來越小,TOF-SIMS在材料成分、摻雜和雜質污染等方面的分析中逐漸擁有不可替代的地位


                二、TOF-SIMS可為您解決的問題

                1 有機物的表面表征,可對元素進行面分布分析,分辨率為5~10nm。

                2 鑒別在金屬、玻璃、陶瓷、薄膜或粉末表面上的有機物層或無機物層,能對有機物進行分析且直接輸出其分子式。

                3 極小小面積分析,最小區域可達直徑80nm。

                4 良好的深度分辨率(0.1-1nm),但濺射速率很慢(<1μm/H)。

                5 可給出樣品的三維圖像信息。

                6 同位素豐度分析......


                三、TOF-SIMS的應用舉例

                (1)血清蛋白和溶菌酶薄膜分別吸附在硅烷上的典型正離子質譜


                (2)連用TOF-SIMS和SPRi分析多糖改性的有序表面的性質


                (3)通過TOF-SIMS像確定試樣的主要成分


                (4)兩種甘油二酯的TOF-SIMS質譜像


                (5)涂料在正負離子模式下的TOF-SIMS質譜


                (6)油漆畫截面TOF-SIMS的全部離子流圖像及典型元素的正離子像

                (圖片來源:Falk Bernsmann,ToF-SIMS Investigations>)

                ——完——


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                全部 3小時前 四川
                文字是人類用符號記錄表達信息以傳之久遠的方式和工具。現代文字大多是記錄語言的工具。人類往往先有口頭的語言后產生書面文字,很多小語種,有語言但沒有文字。文字的不同體現了國家和民族的書面表達的方式和思維不同。文字使人類進入有歷史記錄的文明社會。
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