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              TEM云現(xiàn)場/現(xiàn)場

              TEM云現(xiàn)場/現(xiàn)場

              已預(yù)約23728

              平均周期4天  |  總體滿意度99.3%

              立即預(yù)約

              場發(fā)射透射電鏡(TEM)

              場發(fā)射透射電鏡(TEM)

              已預(yù)約26435

              平均周期4.7天  |  總體滿意度98.8%

              立即預(yù)約

              聚焦離子束(FIB)

              聚焦離子束(FIB)

              已預(yù)約11558

              平均周期7天  |  總體滿意度99.2%

              立即預(yù)約

              FIB云現(xiàn)場/現(xiàn)場

              FIB云現(xiàn)場/現(xiàn)場

              已預(yù)約6577

              平均周期7天  |  總體滿意度99.4%

              立即預(yù)約

              聚光鏡球差透射(AC-STEM)

              聚光鏡球差透射(AC-STEM)

              已預(yù)約11079

              平均周期5天  |  總體滿意度99%

              立即預(yù)約

              負(fù)染色技術(shù)

              負(fù)染色技術(shù)

              已預(yù)約8888

              平均周期7天  |  總體滿意度98%

              立即預(yù)約

              生物樣本透射電鏡(TEM)

              生物樣本透射電鏡(TEM)

              已預(yù)約6603

              平均周期25天  |  總體滿意度99%

              立即預(yù)約

              聚光鏡球差透射(AC-STEM)-云現(xiàn)場

              聚光鏡球差透射(AC-STEM)-云現(xiàn)場

              已預(yù)約4955

              平均周期7天  |  總體滿意度99%

              立即預(yù)約

              離子減薄/電解雙噴?

              離子減薄/電解雙噴?

              已預(yù)約4674

              平均周期15天  |  總體滿意度99.2%

              立即預(yù)約

              原位透射電鏡(in-situ TEM)

              原位透射電鏡(in-situ TEM)

              已預(yù)約3090

              平均周期20天  |  總體滿意度99%

              立即預(yù)約

              三維原子探針(APT)

              三維原子探針(APT)

              已預(yù)約3312

              平均周期10天  |  總體滿意度99%

              立即預(yù)約

              冷凍切片

              冷凍切片

              已預(yù)約2449

              平均周期15天  |  總體滿意度99%

              立即預(yù)約

              TEM數(shù)據(jù)分析

              TEM數(shù)據(jù)分析

              已預(yù)約2095

              平均周期5天  |  總體滿意度99%

              立即預(yù)約

              免疫電鏡測試(IEM)

              免疫電鏡測試(IEM)

              已預(yù)約1749

              平均周期20天  |  總體滿意度99%

              立即預(yù)約

              冷凍透射電鏡(Cryo-TEM)

              冷凍透射電鏡(Cryo-TEM)

              已預(yù)約655

              平均周期10天  |  總體滿意度99%

              立即預(yù)約

              球差STEM數(shù)據(jù)處理

              球差STEM數(shù)據(jù)處理

              已預(yù)約28

              平均周期7天  |  總體滿意度99%

              立即預(yù)約

              TEM暗場圖轉(zhuǎn)三維彩圖

              TEM暗場圖轉(zhuǎn)三維彩圖

              已預(yù)約4

              平均周期3天  |  總體滿意度98%

              立即預(yù)約

               等離子體聚焦離子束顯微鏡(PFIB)

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              已預(yù)約50

              平均周期7天  |  總體滿意度99.9%

              立即預(yù)約

              TEM云現(xiàn)場/現(xiàn)場-成都限時(shí)特價(jià)

              TEM云現(xiàn)場/現(xiàn)場-成都限時(shí)特價(jià)

              已預(yù)約17252

              平均周期4天  |  總體滿意度99.3%

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              FIB-TEM樣品制備技術(shù)

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              透射電鏡(TEM/STEM)在鹵化物鈣鈦礦領(lǐng)域的應(yīng)用

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              SEM/TEM 云現(xiàn)場/現(xiàn)場特惠機(jī)時(shí)限時(shí)放送

              SEM云現(xiàn)場/現(xiàn)場-北京限時(shí)特價(jià): http://www.tongdafittings.com/sycs/1298.html TEM云現(xiàn)場/現(xiàn)場-成都限時(shí)特價(jià): http://www.tongdafittings.com/sycs/1297.html

              2025-08-19

              460次瀏覽

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              TEM透射電鏡在量子點(diǎn)發(fā)光材料領(lǐng)域的應(yīng)用

              TEM在量子點(diǎn)發(fā)光材料領(lǐng)域的應(yīng)用 透射電子顯微鏡 ( TEM )在量子點(diǎn)發(fā)光材料領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用,尤其是在原子尺度上表征材料的結(jié)構(gòu)和成分,從而理解其發(fā)光機(jī)制和優(yōu)化性能方面。 TEM 技術(shù)能夠提供高分辨率的圖像,揭示量子點(diǎn)的尺寸、形狀、晶體結(jié)構(gòu)以及異質(zhì)結(jié)構(gòu)等重要信息。 TEM 技術(shù)在量子點(diǎn)發(fā)光材料...

              2025-07-28

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              高端項(xiàng)目福利專場!全場6折起,EBSD低至360元/區(qū)域、TEM云現(xiàn)場/現(xiàn)場低至720元/h…

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              2025-05-16

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              TEM樣品制備技術(shù):電解雙噴到離子減薄的科學(xué)選擇

              TEM 樣品制備技術(shù):電解雙噴到離子減薄的科學(xué)選擇 透射電子顯微鏡 ( TEM )是揭示材料原子級(jí)結(jié)構(gòu)的核心工具,但其成像質(zhì)量高度依賴于樣品的制備效果。在眾多制樣技術(shù)中, 電解雙噴與離子減薄 因適用場景不同而成為研究者的兩大選擇。下面測試狗將系統(tǒng)闡述兩者的工作原理、操作流程及適用性,幫助科研人員根...

              2025-03-24

              2068次瀏覽

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              一文了解原位透射電鏡實(shí)驗(yàn)技術(shù)( in-situ TEM ) 原位透射電鏡( In-situ Transmission Electron Microscopy, in-situ TEM ) 是一種高級(jí)的材料研究技術(shù),它將透射電鏡的高分辨率成像能力與實(shí)驗(yàn)環(huán)境的實(shí)時(shí)操控相結(jié)合,使科學(xué)家能夠在原子尺度上觀...

              2024-12-13

              3880次瀏覽

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              聚光鏡球差透射AC-STEM與球差校正技術(shù)的發(fā)展

              聚光鏡球差透射 AC-STEM 與球差校正技術(shù)的發(fā)展 聚光鏡球差透射電子顯微鏡( AC-STEM ) 是現(xiàn)代材料科學(xué)、物理學(xué)和納米技術(shù)研究中的重要工具,它通過球差校正技術(shù)顯著提升了透射電鏡的分辨率,使得科學(xué)家能夠以前所未有的細(xì)節(jié)觀察物質(zhì)結(jié)構(gòu)。 一、球差的概念與影響 球差,作為透鏡系統(tǒng)中的一種基本像...

              2024-12-12

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              聚光鏡球差透射AC-STEM實(shí)驗(yàn)優(yōu)化樣品制備的關(guān)鍵步驟

              聚光鏡球差透射 AC-STEM 實(shí)驗(yàn)優(yōu)化樣品制備的關(guān)鍵步驟 聚光鏡球差透射電子顯微鏡( Aberration-Corrected Scanning Transmission Electron Microscopy, AC-STEM ) 是一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化學(xué)和生物...

              2024-12-05

              1775次瀏覽

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              球差掃描電鏡AC-STEM的優(yōu)勢及缺點(diǎn)

              球差掃描電鏡 AC-STEM 的優(yōu)勢強(qiáng)勢及缺點(diǎn)限制 球差掃描電鏡( Aberration-Corrected Scanning Transmission Electron Microscopy ,簡稱 AC-STEM )是一種高級(jí)的電子顯微鏡技術(shù),它通過校正電子光學(xué)系統(tǒng)的球差和色差,實(shí)現(xiàn)了更高的分...

              2024-11-15

              1786次瀏覽

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