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                當前位置:材料測試 ?  結構分析 ? 

                納米紅外(AFM-IR)

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                納米紅外(AFM-IR)

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                如有各類設備采購需求,請聯系專屬顧問。

                馬騁

                XRD、UPS、XPS、DLS、GIXRD、2D-WAXD、AFM-IR測試工程師

                具有多年XPS、DLS等操作經驗。精通XPS技術在材料表征上的應用,尤其在催化、電池材料的峰形處理方面具有豐富經驗和實操技能。同時,在DLS樣品制備和濃度效應分析上有獨到的理解和實踐經驗。

                項目介紹

                1、該測試采用接觸模式光誘導效應(PTIR),通過檢測樣品在特征波長下被激發產生的熱膨脹采集紅外吸收光譜,也可以切換到輕敲模式下進行紅外光譜采集,具備兩種(輕敲和接觸模式)采集光譜模式;納米化學和光學成像空間分辨率優于 10nm,能對單分子層進行紅外光譜表征。


                樣品要求

                1、樣品要求:

                1.不含磁性,可接受樣品狀態為薄膜、固體。

                2.需要客戶自己制備好樣品,.樣品直徑不超過1cm,高度不超過0.8 cm 。

                3.使用合適的紅外透光基底,制備表面平整的樣品,樣品表面的整體起伏低于2 μm,局部粗糙度低于100 nm。

                4.制作超薄樣品厚度小于50 nm時需要使用表面平整的金基底。

                5. AFM-IR測試的樣品建議先進行FTIR測試,以清楚所需的紅外波段。(我方紅外波段范圍950-1850cm-1(1166-1300空缺))

                6..提前和客戶溝通確認是否需要測試老師提供探針或者自備探針,以便提前預約機時,縮短測試周期。

                7.盡量測試前1天提前制樣,防止測試過程樣品漂移。

                8.需要納米紅外數據分析處理軟件,請聯系訂單負責人。

                項目案例
                常見問題
                1、樣品可以是液體嗎?

                可以是液體樣,但最好不含水,水的吸收峰比較強,可能會掩蓋其它峰。

                2、紅外能用來定量嗎?

                紅外主要用于對物質結構、表面、純度及官能團等的測定。在嚴格控制制樣工藝的情況下,可通過圖譜簡單分析實現半定量,精確度和靈敏度較低。

                3、對于樣品中目標結構含量較少的情況,可以測出嗎?

                樣品純度應盡量高,否則目標峰周圍有較多雜峰或強吸收峰,可能分辨不出。

                納米紅外(AFM-IR)

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