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                詳解AAS光譜分析中的背景校正技術(shù)
                來源: 時(shí)間:2025-02-24 09:30:17 瀏覽:2226次

                詳解AAS光譜分析中的背景校正技術(shù)

                 

                原子吸收光譜(AAS)法,亦被稱為原子吸收分光光度法,是一種基于原子蒸氣對(duì)同種原子發(fā)射的特征輻射(譜線)的吸收作用而創(chuàng)立的分析技術(shù)。作為一種高效的定量分析方法,AAS以其高準(zhǔn)確度、高靈敏度、出色的選擇性以及強(qiáng)大的抗干擾能力而聞名。同時(shí),AAS的設(shè)備操作簡(jiǎn)便且分析速度迅速,已廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、冶金、材料、石油、化工、機(jī)械、建材、農(nóng)業(yè)、醫(yī)學(xué)、環(huán)保等多個(gè)學(xué)科和領(lǐng)域。然而,AAS也存在一定的局限性,比如對(duì)于難熔元素和非金屬元素的測(cè)定存在挑戰(zhàn),同時(shí),在分析復(fù)雜樣品時(shí),也可能受到嚴(yán)重干擾,且無法同時(shí)測(cè)定多種元素。

                AAS光譜分析中,背景校正技術(shù)是一項(xiàng)至關(guān)重要的技術(shù),它能夠有效消除背景干擾,提高測(cè)量的準(zhǔn)確性和靈敏度。

                一、背景校正技術(shù)的必要性

                AAS光譜分析中,背景干擾是一個(gè)不可忽視的問題。背景干擾主要源于原子化過程中產(chǎn)生的分子吸收和固體微粒的光散射,這些干擾因素會(huì)直接影響測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和靈敏度。因此,為了獲得準(zhǔn)確的測(cè)定結(jié)果,需要對(duì)背景干擾進(jìn)行校正。

                背景校正技術(shù)的目的是消除背景干擾對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,提高測(cè)量的準(zhǔn)確性和靈敏度。通過背景校正,可以準(zhǔn)確地測(cè)量出樣品中目標(biāo)元素的含量,從而提高AAS光譜分析的準(zhǔn)確性和可靠性。

                二、背景校正技術(shù)的方法

                AAS儀中已有多種背景校正方法,以下介紹幾種主要的背景校正方法及其要點(diǎn)。

                1. 連續(xù)光源背景校正

                連續(xù)光源背景校正是現(xiàn)代AAS儀中應(yīng)用最廣泛的一種背景校正方法,尤其在火焰原子吸收光譜(FAAS)中,它占有相當(dāng)重要的地位。

                該方法的原理是:用待測(cè)元素空心陰極燈(HCL)的輻射作樣品光束,測(cè)量總的吸收信號(hào);同時(shí),用連續(xù)光源(多用氘燈)的輻射作參比光束,在同一波長(zhǎng)下測(cè)量吸收值。由于連續(xù)背景對(duì)HCL和連續(xù)光源輻射有相同的吸收,而待測(cè)原子對(duì)連續(xù)光源也有吸收,但元素分析線很窄,不到通帶寬度的1%,因此可以忽略不計(jì)。這樣,連續(xù)光源所測(cè)值可視為純背景吸收。光輻射交替通過原子化器,兩次所測(cè)吸光值相減,即可使背景得到校正。

                在實(shí)際使用時(shí),要求精心調(diào)配使氘燈連續(xù)光源和HCL銳線光源強(qiáng)度匹配,并盡可能使光斑重合一致。近年,有公司通過設(shè)計(jì)氘空心陰極燈的幾何形狀和成像光學(xué)部件,使兩種輻射光束穿過完全相同的吸收體積,有效地避免了因雙燈源的采用而帶來的光學(xué)平衡問題。然而,該方法應(yīng)用波段有限制,有時(shí)還產(chǎn)生背景校正過度或不足的問題。如果共存物的原子對(duì)通過單色器的連續(xù)輻射產(chǎn)生吸收,會(huì)出現(xiàn)補(bǔ)償過度現(xiàn)象。此外,連續(xù)光源背景校對(duì)FAAS較好,但對(duì)石墨爐原子吸收光譜(GFAAS)效應(yīng)不佳。

                2. 自吸效應(yīng)背景校正

                自吸效應(yīng)背景校正法,又稱S-H法。其原理是以低電流脈沖供電,空心陰極燈發(fā)射銳線光譜,測(cè)得原子吸收與背景吸收的總吸光度;再以短時(shí)高電流脈沖供電發(fā)射線產(chǎn)生自吸效應(yīng),輻射能量由于自吸變寬而幾種與原波長(zhǎng)的兩側(cè),不為原子蒸氣所吸收,所測(cè)為背景吸收值。將兩值相減,即可得到校正后的原子吸收值。

                該方法對(duì)GFAAS法效果不明顯,基本上作為其他校正法的補(bǔ)充。

                3. 塞曼效應(yīng)背景校正

                塞曼效應(yīng)背景校正是基于吸收線在磁場(chǎng)作用下產(chǎn)生分裂的原理。吸收線在磁場(chǎng)作用下,會(huì)分裂成平行磁場(chǎng)π組分和垂直于磁場(chǎng)α+、α-組分。偏振組分α+、α-有中心波長(zhǎng)位移,若頻移足夠大時(shí),不為待測(cè)物所吸收,測(cè)量的只是背景吸收。若恒定磁場(chǎng)調(diào)制方式,π組分和背景吸收所測(cè)吸光值為原子吸收于背景吸收的總吸收值;若是交變磁場(chǎng)調(diào)制方式,當(dāng)磁場(chǎng)關(guān)閉時(shí),吸收相不發(fā)生分裂,所測(cè)吸光值為原子吸收于背景吸收的總值。將兩種測(cè)定值相減(即原子吸收與背景吸收總值減去背景吸收值),可以使背景得到校正。

                目前商品儀器有兩大類:恒定磁場(chǎng)(固定磁場(chǎng))和交變磁場(chǎng),可配置于光源上或原子化器。近年來,以配置在GFAAS較多,火焰應(yīng)用較少。恒定磁場(chǎng)往往塞曼效應(yīng)譜線分裂不完整,而降低測(cè)量的準(zhǔn)確性。同時(shí)儀器靈敏度往往低于正常AAS的一半,永久磁長(zhǎng)期使用會(huì)退磁。若采用旋轉(zhuǎn)偏振器,會(huì)出現(xiàn)某種程度不平衡,使背景校正能力下降。由于上述缺陷,儀器公司采用橫向交流交變磁場(chǎng)吸收線調(diào)制法。但如果交變磁場(chǎng)強(qiáng)度不夠,工作曲線出現(xiàn)反轉(zhuǎn)。最近有公司開發(fā)縱向交流交變磁場(chǎng),省略可偏振元件,使分析動(dòng)態(tài)范圍大大拓寬。

                從儀器使用考慮,選擇應(yīng)用橫向交流塞曼效應(yīng)較好,這種系統(tǒng)具有最佳雙光束性能,背景校正能力高而準(zhǔn)確,線性和靈敏度于常規(guī)AAS相類似,檢出限比連續(xù)光源背景校正器好,能全波段背景校正。近來有儀器公司推出了3磁場(chǎng)塞曼效應(yīng)背景校正技術(shù),該模式除高磁和零磁場(chǎng)之外,還有第三個(gè)中間磁場(chǎng)強(qiáng)度,可根據(jù)被測(cè)濃度要求,通過軟件選擇最佳中間磁場(chǎng)強(qiáng)度,可使動(dòng)態(tài)范圍擴(kuò)展10倍。

                三、選擇與應(yīng)用

                在選擇背景校正技術(shù)時(shí),需要根據(jù)實(shí)際測(cè)量需求和樣品特性進(jìn)行綜合考慮。不同的背景校正方法各有優(yōu)缺點(diǎn),適用于不同的測(cè)量場(chǎng)景和樣品類型。

                例如,對(duì)于FAAS分析,連續(xù)光源背景校正是一種較為成熟且有效的背景校正方法;而對(duì)于GFAAS分析,塞曼效應(yīng)背景校正則具有更高的準(zhǔn)確性和靈敏度。同時(shí),還需要考慮儀器的性能、操作簡(jiǎn)便性、成本等因素。

                在實(shí)際應(yīng)用中,可以通過對(duì)比不同背景校正方法的測(cè)定結(jié)果,選擇最適合的背景校正方法。此外,還可以結(jié)合其他技術(shù)手段,如標(biāo)準(zhǔn)加入法、內(nèi)標(biāo)法等,進(jìn)一步提高測(cè)量的準(zhǔn)確性和可靠性。

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