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              SEM掃描電鏡測試的原理、結構及主要性能
              來源: 時間:2024-11-11 10:12:20 瀏覽:4116次

              SEM掃描電鏡測試的原理、結構及主要性能

               

              掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope,簡稱SEM)是一種重要的分析儀器,廣泛應用于材料科學、生物學、醫學、冶金學等領域SEM以其高分辨率、放大范圍廣、觀察樣品種類多等特點,在微觀形貌觀察、成分分析和晶體學研究中發揮著重要作用。

              一、工作原理

              SEM掃描電鏡的基本原理是利用聚焦電子束對樣品表面進行掃描,通過收集樣品在電子束作用下產生的二次電子、背散射電子等信號,形成樣品表面的形貌像。

              具體來說,SEM的工作原理可以分為以下幾個步驟:

              1. 電子槍發射電子:電子槍是SEM的核心部件,它發射出高速電子束。

              2. 電子束聚焦:通過電磁透鏡系統,將電子槍發射的電子束聚焦成直徑很小的電子探針。

              3. 電子束掃描:在掃描線圈的作用下,電子探針在樣品表面進行逐點掃描。

              4. 信號收集:樣品在電子束的作用下,會產生二次電子、背散射電子等信號;這些信號被探測器收集并轉換為電信號。

              5. 圖像顯示:電信號經過放大、處理后,在顯示器上形成樣品表面的形貌像。

              二、結構

              SEM掃描電鏡主要由以下幾個部分組成:

              1. 電子槍:發射高速電子束,常用的電子槍有熱電子槍和場發射槍。

              2. 電磁透鏡:對電子束進行聚焦,包括物鏡和掃描透鏡。

              3. 掃描線圈:控制電子束在樣品表面的掃描軌跡。

              4. 樣品室:放置樣品,并保持真空狀態,以防止電子與空氣分子發生碰撞。

              5. 探測器:收集樣品產生的二次電子、背散射電子等信號。

              6. 信號處理與顯示系統:將探測器收集到的信號進行處理,最終在顯示器上形成圖像。

              三、主要性能

              1. 高分辨率:SEM的分辨率可達納米級別,甚至亞納米級別;這使其能夠觀察到樣品表面的細微結構。

              2. 大放大倍數:SEM的放大倍數范圍廣泛,從幾十倍到幾十萬倍不等,滿足不同觀察需求。

              3. 多信號探測:SEM可以收集二次電子、背散射電子、特征X射線等多種信號,為樣品分析提供豐富的信息。

              4. 大景深:SEM具有較大的景深,使得樣品的三維形貌更加清晰。

              5. 快速成像:SEM掃描速度快,可以在短時間內獲得高質量的圖像。

              6. 樣品適用范圍廣:SEM適用于各種固體樣品,包括金屬、非金屬、生物樣品等。

              四、應用

              1. 材料科學:觀察金屬、陶瓷、高分子等材料的微觀結構,分析成分和晶體學特征。

              2. 生物學:觀察細胞、微生物、組織等生物樣品的形貌,進行細胞生物學、病理學研究。

              3. 地質學:分析礦物、巖石的微觀結構,進行地球化學研究。

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              全部 3小時前 四川
              文字是人類用符號記錄表達信息以傳之久遠的方式和工具?,F代文字大多是記錄語言的工具。人類往往先有口頭的語言后產生書面文字,很多小語種,有語言但沒有文字。文字的不同體現了國家和民族的書面表達的方式和思維不同。文字使人類進入有歷史記錄的文明社會。
              點贊12
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