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              電子背散射衍射EBSD測試的具體分析功能
              來源: 時間:2024-10-11 10:09:44 瀏覽:2100次

              電子背散射衍射EBSD測試的具體分析功能

               

              電子背散射衍射(EBSD,又稱為電子背向散射衍射或取向成像顯微術(OIM),是一種在掃描電子顯微鏡(SEM中用于進行晶體學和取向分析的技術。EBSD技術能夠對材料進行微觀尺度上的晶體取向、晶界特性、相鑒定以及應變分析等,是材料科學研究中的重要工具。

              一、原理

              EBSD技術基于晶體對入射電子束的衍射現象。當高能電子束入射到樣品表面時,大部分電子會穿透樣品,但有一部分電子會被晶體中的晶格原子散射回來,這些背散射電子在特定的晶體平面會發生衍射,形成衍射花樣,稱為菊池線;通過檢測菊池線并與已知晶體結構的數據庫進行對比,可以確定樣品中晶體的取向信息。

              二、組成

              EBSD系統通常包括以下幾個部分:

              1. 掃描電子顯微鏡(SEM:提供高能電子束和樣品室。

              2. EBSD探測器:收集背散射電子并形成菊池圖案。

              3. EBSD相機:記錄菊池圖案并進行數字化處理。

              4. 數據分析軟件:用于菊池圖案的索引、晶體取向的計算以及后續的數據分析。

              三、測試步驟

              1. 樣品制備:樣品需要經過拋光和電解拋光,以獲得光滑的表面,便于菊池線的形成。

              2. 樣品安裝:將制備好的樣品安裝在SEM樣品臺上。

              3. 系統校準:對EBSD系統進行校準,確保數據的準確性。

              4. 數據采集:在SEM中逐點掃描樣品表面,收集菊池圖案。

              5. 數據分析:使用EBSD軟件對菊池圖案進行索引和取向計算,生成取向 mapping 等分析結果。

              四、分析功能

              1. 晶體取向 mapping

              EBSD能夠生成晶體取向分布圖,即取向 mapping。通過對樣品表面進行逐點掃描,可以獲得每個檢測點的晶體取向信息,從而揭示材料的微觀取向結構;這種分析對于理解材料的變形和再結晶行為至關重要。

              2. 晶界特性分析

              晶界是晶體中不同取向晶粒之間的邊界。EBSD技術可以用來識別各種類型的晶界,如低角度晶界、高角度晶界、特殊晶界等;晶界的特性對材料的性能有顯著影響,因此晶界分析對于優化材料性能具有重要意義。

              3. 相鑒定

              EBSD可以區分不同的晶體相,即使它們在SEM圖像中看起來非常相似;通過分析菊池圖案,可以確定樣品中的相組成,這對于理解材料的微觀結構和性能至關重要。

              4. 應變分析

              EBSD可以用來測量微觀尺度上的應變。通過比較晶體理論取向與實際取向,可以確定樣品中的應變分布;這對于研究材料在加工和使用過程中的變形行為非常有用。

              5. 纖維晶體分析

              對于具有纖維晶體結構的材料,EBSD可以用來分析纖維的取向和分布,這對于提高材料性能和可靠性具有重要意義。

               

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              全部 3小時前 四川
              文字是人類用符號記錄表達信息以傳之久遠的方式和工具。現代文字大多是記錄語言的工具。人類往往先有口頭的語言后產生書面文字,很多小語種,有語言但沒有文字。文字的不同體現了國家和民族的書面表達的方式和思維不同。文字使人類進入有歷史記錄的文明社會。
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