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              掠入射XRD的原理及與常規(guī)XRD技術(shù)的差異
              來源: 時間:2024-09-14 17:01:25 瀏覽:2761次

              掠入射XRD的原理及與常規(guī)XRD技術(shù)的差異


              X射線衍射XRD)技術(shù)是一種重要的材料分析方法,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化學(xué)、物理學(xué)等領(lǐng)域。它通過分析X射線在晶體材料中的衍射現(xiàn)象,獲取物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、晶粒尺寸、應(yīng)變等信息。常規(guī)XRD技術(shù)在分析塊狀樣品時具有較高的準(zhǔn)確性和可靠性,但在分析薄膜、納米材料等表面敏感樣品時,存在一定的局限性。為了克服這些局限,掠入射XRDGIXRD)技術(shù)應(yīng)運而生。

              X射線衍射儀


              掠入射XRD原理

              1. 掠入射XRD簡介

              掠入射XRD是一種特殊的XRD技術(shù),其特點在于X射線以極小的入射角(通常小于5度)照射到樣品表面。這種技術(shù)能夠有效減小X射線在樣品內(nèi)部的穿透深度,從而實現(xiàn)對樣品表面結(jié)構(gòu)的敏感分析。

              2. 掠入射XRD原理

              1X射線與物質(zhì)的相互作用

              X射線在物質(zhì)中的傳播過程,實質(zhì)上是與物質(zhì)中的電子相互作用的過程。當(dāng)X射線照射到晶體材料時,會發(fā)生衍射現(xiàn)象。衍射現(xiàn)象的產(chǎn)生是由于X射線與晶體中的原子平面發(fā)生相互作用,導(dǎo)致X射線發(fā)生相位變化。

              2)布拉格定律

              布拉格定律是XRD技術(shù)的基本原理,表達(dá)式為:nλ = 2d sinθ,其中n為整數(shù),λ為X射線波長,d為晶面間距,θ為布拉格角。當(dāng)X射線滿足布拉格條件時,會發(fā)生衍射現(xiàn)象。

              3)掠入射XRD原理

              在掠入射XRD實驗中,X射線以極小的入射角照射到樣品表面。由于入射角較小,X射線在樣品內(nèi)部的穿透深度有限,主要集中在樣品表面附近。因此,掠入射XRD技術(shù)能夠有效分析樣品表面結(jié)構(gòu)。

               

              掠入射XRD與常規(guī)XRD的區(qū)別

              1. 分析對象

              常規(guī)XRD技術(shù)適用于分析塊狀樣品,而掠入射XRD技術(shù)適用于分析薄膜、納米材料等表面敏感樣品。

              2. X射線入射角

              常規(guī)XRD技術(shù)的X射線入射角通常在20度至70度之間,而掠入射XRD技術(shù)的X射線入射角小于5度。

              3. 穿透深度

              常規(guī)XRD技術(shù)中,X射線在樣品內(nèi)部的穿透深度較大,可能導(dǎo)致樣品表面結(jié)構(gòu)信息被掩蓋。而掠入射XRD技術(shù)中,X射線在樣品內(nèi)部的穿透深度較小,有利于分析樣品表面結(jié)構(gòu)。

              4. 衍射峰強度

              由于掠入射XRD技術(shù)中X射線在樣品內(nèi)部的穿透深度較小,衍射峰強度較低。因此,在分析過程中,需要采用較長的曝光時間或更靈敏的檢測器。

              5. 結(jié)構(gòu)敏感性

              掠入射XRD技術(shù)對樣品表面結(jié)構(gòu)具有較高的敏感性,能夠揭示常規(guī)XRD技術(shù)難以檢測的細(xì)微結(jié)構(gòu)變化。

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              全部 3小時前 四川
              文字是人類用符號記錄表達(dá)信息以傳之久遠(yuǎn)的方式和工具。現(xiàn)代文字大多是記錄語言的工具。人類往往先有口頭的語言后產(chǎn)生書面文字,很多小語種,有語言但沒有文字。文字的不同體現(xiàn)了國家和民族的書面表達(dá)的方式和思維不同。文字使人類進(jìn)入有歷史記錄的文明社會。
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