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相比普通SEM電鏡，原位SEM電鏡能測(cè)什么？

來(lái)源：時(shí)間：2023-12-21 14:52:41 瀏覽：3823次

相比普通SEM電鏡，原位SEM電鏡能測(cè)什么？

掃描電子顯微鏡（SEM）是一種廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的顯微成像技術(shù)。然而，傳統(tǒng)的SEM技術(shù)在實(shí)時(shí)觀察樣品時(shí)存在一定的局限性。相比之下，原位SEM（in-situ-SEM）作為一種新型的顯微成像技術(shù)，能夠?qū)崟r(shí)觀察樣品在特定環(huán)境下的變化。

原位SEM電鏡

掃描電子顯微鏡（SEM）是一種利用電子束掃描樣品表面，并通過(guò)電子與物質(zhì)的相互作用獲取圖像信息的顯微鏡技術(shù)。SEM在材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。然而，傳統(tǒng)的SEM技術(shù)在進(jìn)行樣品觀察時(shí)，往往需要對(duì)樣品進(jìn)行固定、切片等預(yù)處理，這可能導(dǎo)致樣品的原始狀態(tài)發(fā)生改變。原位SEM電鏡作為一種新型的SEM技術(shù)，能夠在接近樣品實(shí)際環(huán)境的情況下進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察，從而獲得更為準(zhǔn)確的樣品信息。

原位SEM電鏡的工作原理

原位SEM電鏡主要由SEM主機(jī)、樣品臺(tái)、氣氛控制裝置、圖像采集與處理系統(tǒng)等部分組成。在原位SEM電鏡中，樣品被放置在一個(gè)特定的氣氛環(huán)境中，如高溫、高壓、低溫、低壓等。在觀察過(guò)程中，電子束掃描樣品表面，并通過(guò)與樣品中的電子相互作用產(chǎn)生二次電子、退火輻射等信號(hào)。這些信號(hào)被探測(cè)器接收并轉(zhuǎn)化為圖像，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的實(shí)時(shí)觀察。

原位SEM電鏡的優(yōu)勢(shì)

實(shí)時(shí)觀察

原位SEM電鏡能夠在接近樣品實(shí)際環(huán)境的情況下進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察，從而捕捉到樣品在特定條件下的變化過(guò)程。這對(duì)于研究樣品的動(dòng)態(tài)行為、相變過(guò)程等具有重要意義。

高分辨率

原位SEM電鏡的分辨率相較于傳統(tǒng)SEM有所提高，能夠獲得更高質(zhì)量的圖像。這有助于觀察樣品的細(xì)節(jié)結(jié)構(gòu)，從而為樣品的微觀分析提供更為準(zhǔn)確的信息。

廣泛的氣氛適應(yīng)性

原位SEM電鏡具有廣泛的氣氛適應(yīng)性，可以在高溫、高壓、低溫、低壓等不同環(huán)境中進(jìn)行觀察。這為研究樣品在不同條件下的性質(zhì)提供了便利。

原位SEM電鏡的應(yīng)用領(lǐng)域

材料科學(xué)領(lǐng)域

在材料科學(xué)領(lǐng)域，原位SEM電鏡可以用于觀察材料在不同環(huán)境下的相變過(guò)程、晶格參數(shù)變化、微觀結(jié)構(gòu)演變等。例如，在研究高溫合金時(shí)，原位SEM電鏡可以實(shí)時(shí)觀察合金在高溫下的微觀結(jié)構(gòu)變化，從而為合金的設(shè)計(jì)與優(yōu)化提供依據(jù)。

生物學(xué)領(lǐng)域

在生物學(xué)領(lǐng)域，原位SEM電鏡可以用于觀察生物樣品在不同環(huán)境下的形態(tài)、結(jié)構(gòu)變化。例如，在研究細(xì)胞在不同生理狀態(tài)下的形態(tài)變化時(shí)，原位SEM電鏡可以實(shí)時(shí)觀察細(xì)胞的動(dòng)態(tài)變化，從而為研究細(xì)胞生理機(jī)制提供直觀的證據(jù)。

醫(yī)學(xué)領(lǐng)域

在醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，原位SEM電鏡可以用于觀察生物組織、細(xì)胞、病毒等在不同環(huán)境下的形態(tài)、結(jié)構(gòu)變化。例如，在研究病毒感染細(xì)胞的過(guò)程時(shí)，原位SEM電鏡可以實(shí)時(shí)觀察病毒與細(xì)胞的相互作用，從而為研究病毒感染機(jī)制提供直觀的證據(jù)。

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