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in-situ-SEM與常規(guī)SEM有什么區(qū)別？

來源：時(shí)間：2023-12-19 14:01:47 瀏覽：2390次

in-situ-SEM與常規(guī)SEM有什么區(qū)別？

原位掃描電子顯微鏡（in-situ-SEM）是一種先進(jìn)的電子顯微鏡技術(shù)，它結(jié)合了掃描電子顯微鏡（SEM）和原位觀察技術(shù)，可以在實(shí)時(shí)條件下對(duì)樣品進(jìn)行觀察和分析，被廣泛應(yīng)用于生物科學(xué)、材料科學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域。

原位掃描電子顯微鏡（in-situ-SEM）與常規(guī)掃描電子顯微鏡（SEM）在原理和應(yīng)用上有許多相似之處，但它們?cè)跇悠诽幚怼?shí)時(shí)觀察和分析等方面存在顯著差異：

1. 樣品制備

常規(guī)SEM通常需要對(duì)樣品進(jìn)行固定、脫水、染色、鍍膜等復(fù)雜處理，這些步驟可能對(duì)樣品產(chǎn)生一定程度的損傷或形變；而in-situ-SEM則采用原位觀察的方法，無需對(duì)樣品進(jìn)行復(fù)雜處理，從而降低了樣品損傷的風(fēng)險(xiǎn)。

2. 實(shí)時(shí)觀察與分析

常規(guī)SEM通過對(duì)樣品表面進(jìn)行掃描，收集二次電子信號(hào)形成圖像，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的靜態(tài)觀察，然而，這種觀察方式無法捕捉樣品在變化過程中的實(shí)時(shí)信息；相比之下，in-situ-SEM能夠在實(shí)時(shí)條件下觀察樣品的變化，如形態(tài)、結(jié)構(gòu)、組成等。

3. 應(yīng)用領(lǐng)域

由于in-situ-SEM具有較高的實(shí)時(shí)性和較少的樣品處理步驟，使其在生物科學(xué)、材料科學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景；例如，在生物科學(xué)領(lǐng)域，in-situ-SEM可以用于觀察細(xì)胞在生理?xiàng)l件下的形態(tài)和結(jié)構(gòu)變化，揭示細(xì)胞與外部環(huán)境的相互作用；在材料科學(xué)領(lǐng)域，in-situ-SEM可以實(shí)時(shí)觀察材料在受力、加熱等過程中的微觀結(jié)構(gòu)變化，為研究材料的力學(xué)性能和失效機(jī)制提供重要信息；而常規(guī)SEM則更適用于工程領(lǐng)域、地質(zhì)學(xué)、冶金學(xué)等對(duì)樣品處理要求較低的行業(yè)。

4. 未來發(fā)展趨勢

隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，對(duì)樣品實(shí)時(shí)觀察和分析的需求越來越迫切；in-situ-SEM作為一種能夠滿足這種需求的工具，將在生物科學(xué)、材料科學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域得到更廣泛的應(yīng)用；另外，隨著電子顯微鏡技術(shù)的不斷發(fā)展，in-situ-SEM的分辨率和圖像質(zhì)量將進(jìn)一步提高，為其在各個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用提供更有力的支持。

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