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              STEM掃描透射電鏡的工作原理及測試分析能力
              來源: 時(shí)間:2023-08-25 16:07:11 瀏覽:2907次

              STEM掃描透射電鏡的工作原理及測試分析能力


              STEM掃描透射電鏡是一種可以進(jìn)行微觀分析實(shí)驗(yàn)儀器,它結(jié)合了TEM透射電鏡SEM掃描電子顯微鏡的特點(diǎn)。它能夠以極高的分辨率觀察樣品的原子尺度結(jié)構(gòu)和組成,同時(shí)還可以進(jìn)行成像和分析,從而在多個(gè)領(lǐng)域提供了廣泛的應(yīng)用。


              掃描透射電鏡


              STEM電鏡的工作原理及實(shí)驗(yàn)步驟

              電子源產(chǎn)生電子束:STEM中使用的電子源產(chǎn)生高能量的電子束。這個(gè)電子束是用于照射樣品的。


              樣品的透射:電子束穿過樣品,類似于傳統(tǒng)的透射電子顯微鏡。不同的區(qū)域會對電子束產(chǎn)生不同程度的散射和吸收,從而形成一個(gè)關(guān)于樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的信息。


              透射電子檢測:與傳統(tǒng)的透射電子顯微鏡不同,STEM使用一個(gè)探測器陣列來收集穿過樣品的透射電子。這些探測器可以被精確地定位,使得STEM能夠同時(shí)獲取多個(gè)點(diǎn)的信息,從而進(jìn)行掃描成像。


              掃描成像:STEM通過控制電子束的位置來掃描樣品表面。對于每個(gè)位置,透射電子通過樣品并被探測器捕捉,形成一個(gè)像素點(diǎn)的信號。


              成像與分析:STEM收集到的透射電子信號被轉(zhuǎn)化為圖像。通過收集大量這樣的圖像,可以構(gòu)建出整個(gè)樣品的圖像。這些圖像能夠提供關(guān)于樣品的原子尺度結(jié)構(gòu)、元素分布以及晶體學(xué)信息。



              STEM電鏡的測試與分析能力

              高分辨率成像:STEM 可以以原子級分辨率成像材料的表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu),幫助科學(xué)家研究納米尺度的特征和缺陷。


              能譜分析:通過收集透射電子的能量譜信息,可以確定樣品中不同元素的存在及其相對豐度。這對于分析化學(xué)成分非常重要。


              電子衍射:STEM 可以進(jìn)行電子衍射實(shí)驗(yàn),通過分析電子的散射模式來推斷晶體的結(jié)晶結(jié)構(gòu)。


              原子尺度元素分布:通過能譜成像技術(shù),STEM 可以繪制出樣品表面元素的分布圖,揭示不同元素在材料中的分布情況。


              電子衍射斑圖:STEM 可以生成電子衍射斑圖,提供晶體學(xué)信息,幫助確定晶體的定向和結(jié)構(gòu)。



              測試狗

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              全部 3小時(shí)前 四川
              文字是人類用符號記錄表達(dá)信息以傳之久遠(yuǎn)的方式和工具?,F(xiàn)代文字大多是記錄語言的工具。人類往往先有口頭的語言后產(chǎn)生書面文字,很多小語種,有語言但沒有文字。文字的不同體現(xiàn)了國家和民族的書面表達(dá)的方式和思維不同。文字使人類進(jìn)入有歷史記錄的文明社會。
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