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              電子探針微區分析(EPMA):一種多功能材料分析技術
              來源: 時間:2023-05-15 16:55:20 瀏覽:2765次

               電子探針微區分析(EPMA):一種多功能材料分析技術


              電子探針微區分析Electron Probe Micro-Analysis,簡稱EPMA)是一種高精度、高分辨率的微區分析技術,它能夠定量地分析固體材料中的微量元素和化學計量比,同時還可以測量樣品中的晶體結構、晶體缺陷、表面形貌等多個物理性質。


              電子探針


              儀器原理

              EPMA技術基于電子束與物質的相互作用,利用電子束擊打材料表面,使樣品表面發射出X射線和電子,并通過分析樣品表面的X射線和電子,可以定量測量樣品中各元素的含量和分布情況,同時還能測量樣品中的晶體結構、晶體缺陷、表面形貌等多個物理性質。EPMA系統主要由以下三個部分組成:

              電子槍:電子槍產生的電子束通過真空管道照射在樣品表面。

              樣品舞臺:樣品舞臺用于定位樣品,同時可以控制樣品在電子束下的位置。

              探測器:探測器用于檢測樣品表面發射出的電子和X射線,并將信號轉化成數字信號供計算機處理。



              EPMA可以測哪些項目?

              EPMA技術可以測量的項目包括元素含量、元素分布、化學計量比、晶體結構、晶體缺陷、表面形貌等多個參數。


              元素含量:EPMA技術可以定量測量固體材料中微量元素的含量,通常可以達到ppm級別(百萬分之一)。它可以測量固體材料中所有元素的含量,包括金屬元素、非金屬元素、稀土元素等。由于不同元素的電子結構不同,因此不同元素的激發能也不同,EPMA技術可以利用不同元素的激發能差異來進行元素定量分析。


              元素分布:EPMA技術可以測量固體材料中各元素的空間分布情況,包括元素在樣品內部的分布、元素在晶粒界面和晶界上的分布等。通過測量元素的分布情況,可以了解固體材料中元素的遷移和分配規律。


              化學計量比:EPMA技術可以測量固體材料中化學計量比,即不同元素之間的比例關系。通過測量化學計量比,可以了解固體材料中化學反應的類型和程度,從而幫助分析材料的性質和特性。


              晶體結構:EPMA技術可以通過測量樣品中的晶體衍射圖案,來確定樣品的晶體結構。這項技術可以用于分析晶體中的缺陷和晶格畸變等問題,從而幫助理解材料的物理性質。


              晶體缺陷:EPMA技術可以通過測量樣品中的晶體衍射圖案,來分析晶體中的缺陷類型和分布情況,包括位錯、薄片、晶界等。通過分析晶體缺陷,可以了解材料的物理性質和機械性能等問題。


              表面形貌:EPMA技術可以通過測量樣品表面的形貌和紋理來分析樣品的表面結構和表面性質。該項技術在材料科學、環境科學和生命科學等領域都有廣泛的應用。


              在實際應用中,EPMA技術可以與其他技術相結合,如SEM掃描電鏡、TEM透射電鏡、X射線衍射X射線熒光光譜XRF)等,來對材料進行全面分析。



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              全部 3小時前 四川
              文字是人類用符號記錄表達信息以傳之久遠的方式和工具。現代文字大多是記錄語言的工具。人類往往先有口頭的語言后產生書面文字,很多小語種,有語言但沒有文字。文字的不同體現了國家和民族的書面表達的方式和思維不同。文字使人類進入有歷史記錄的文明社會。
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