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                AFM原子力顯微鏡的成像模式以及測(cè)試注意事項(xiàng)
                來(lái)源:測(cè)試GO 時(shí)間:2022-08-10 11:33:00 瀏覽:3197次

                AFM測(cè)試成像模式:

                1、接觸模式:針尖與樣品表面距離小,利用原子間的斥力;可獲得高解析度圖像;樣品變形,針尖受損;不適合于表面柔軟的材料;

                2、非接觸模式:針尖距離樣品5-20nm,利用原子間的吸引力,不損傷樣品表面,可測(cè)試表面柔軟樣品;分辨率低,有誤判現(xiàn)象;

                3、輕敲模式:探針在Z軸維持固定頻率振動(dòng),當(dāng)振動(dòng)到谷底時(shí)與樣品接觸,對(duì)樣品破壞小,分辨率幾乎同接觸模式相同。

                 AFM測(cè)試實(shí)驗(yàn)儀器


                三種模式的比較

                接觸模式:

                優(yōu)點(diǎn):掃描速度快,是唯一能夠獲得“原子分辨率”圖像的AFM垂直方向上有明顯變化的質(zhì)硬樣品,有時(shí)更適于用接觸模式掃描成像。

                缺點(diǎn):橫向力影響圖像質(zhì)量。在空氣中,因?yàn)闃悠繁砻嫖揭簩拥拿?xì)作用,使針尖與樣品之間的粘著力很大。橫向力與粘著力的合力導(dǎo)致圖像空間分辨率降低,而且針尖刮擦樣品會(huì)損壞軟質(zhì)樣品(如生物樣品,聚合體等)。

                非接觸模式:

                優(yōu)點(diǎn):沒(méi)有力作用于樣品表面。

                缺點(diǎn):由于針尖與樣品分離,橫向分辨率低;為了避免接觸吸附層而導(dǎo)致針尖膠粘,其掃描速度低于輕敲模式和接觸模式AFM。通常僅用于非常怕水的樣品,吸附液層必須薄,如果太厚,針尖會(huì)陷入液層,引起反饋不穩(wěn),刮擦樣品。由于上述缺點(diǎn),非接觸模式的使用受到限制。

                輕敲模式:

                優(yōu)點(diǎn):很好的消除了橫向力的影響。降低了由吸附液層引起的力,圖像分辨率高,適于觀測(cè)軟、易碎、或膠粘性樣品,不會(huì)損傷其表面。

                缺點(diǎn):比接觸模式AFM 的掃描速度慢。

                 

                AFM測(cè)試樣品注意事項(xiàng):

                 

                Q:AFM測(cè)試中,對(duì)樣品的上下表面要求是什么?

                A:要求樣品上下表面整潔,無(wú)油漬灰塵等污染物

                 

                Q:AFM測(cè)試中,對(duì)粉末樣品的質(zhì)量要求是多少?

                A:不少于5mg

                 

                Q:AFM測(cè)試中,對(duì)固體薄膜樣品的厚度要求是多少?

                A:不大于0.5cm


                測(cè)試狗

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                全部 3小時(shí)前 四川
                文字是人類(lèi)用符號(hào)記錄表達(dá)信息以傳之久遠(yuǎn)的方式和工具。現(xiàn)代文字大多是記錄語(yǔ)言的工具。人類(lèi)往往先有口頭的語(yǔ)言后產(chǎn)生書(shū)面文字,很多小語(yǔ)種,有語(yǔ)言但沒(méi)有文字。文字的不同體現(xiàn)了國(guó)家和民族的書(shū)面表達(dá)的方式和思維不同。文字使人類(lèi)進(jìn)入有歷史記錄的文明社會(huì)。
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