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              距失效
              
                    
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              當(dāng)前位置：材料測(cè)試 ?  物性分析 ? 
              
                
              微波光電導(dǎo)衰減壽命測(cè)試儀
              
            
              
            
              
                
              
                    
              
                        
              
                            
              97%
              滿意度
              
                            
              
                            
              
                                
                                
                            
              
                            
              
                                
              微波光電導(dǎo)衰減壽命測(cè)試儀
              
                                
                                
              
                                    
              已 預(yù) 約：
              
                                    
              2738次
              
                                
              
                                
              
                                    
              服務(wù)周期：
              
                                    
              平均7個(gè)工作日完成
              
                                
              
                                                                

                                                                
              
                                                                                                                        
              
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              咨詢價(jià)格
                                        
                                                  
              
                                        
                                            
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              如有各類設(shè)備采購(gòu)需求，請(qǐng)聯(lián)系專屬顧問(wèn)。
              
                            
              
                        
              

                        
                        
                        
                        
                        
                        
                        
                    
              

                    
                    
                    
                    

                    
              
                        
              項(xiàng)目介紹
              
                        
              mPCD用來(lái)測(cè)試硅片的有效少子壽命; cPCD用來(lái)測(cè)試樣品的體少子壽命。
              微波光電導(dǎo)衰退法Microwave photoconductivity decay)測(cè)試少子壽命，主要包括激光注入產(chǎn)生電子-空穴對(duì)和微波探測(cè)信號(hào)的變化這兩個(gè)過(guò)程。
              904mm 的激光注入(對(duì)于硅，注入深度大約為30um )產(chǎn)生電子-空穴對(duì)，導(dǎo)致樣品電導(dǎo)率的增加，當(dāng)撤去外界光注入時(shí)，電導(dǎo)率隨時(shí)間指數(shù)衰減，
              這一趨勢(shì)間接反映少數(shù)載流子的衰減趨勢(shì)，從而通過(guò)微波探測(cè)電導(dǎo)率隨時(shí)間變化的趨勢(shì)就可以得到少數(shù)載流子的壽命。


              
                    
              
                    
              
                        
              樣品要求
              
                        
              （1）mPCD所能測(cè)試的樣品，從 8英寸到一般切割的小樣品(1cm×1cm）都可以。一般機(jī)械拋光，化學(xué)拋光或研磨面的樣品都可以測(cè)試，但樣品必須是輕摻，重?fù)剑娮杪市∮?.1Ωcm）和重?fù)揭r底的外延片都不行。
              （2）CPCD所能測(cè)試的樣品限于3，4，6，8英寸。一般硅片表面要形成自然氧化層或生長(zhǎng)一層帶電荷的薄膜。
              
                    
              
                    
              
                            
              項(xiàng)目案例
              
                            
              
                                
              
                                                                    
              
                            
              
                        
                                  
              
                            
              常見(jiàn)問(wèn)題
              
                            
              
                                
              
                                        
              1、測(cè)試周期？
              
                                        
              一般到樣3-5個(gè)工作日
              
                                    
                                          
              
                        
                                                  
              
                
            
              
        
              
        
        
              
            
              
                
              
                    
              微波光電導(dǎo)衰減壽命測(cè)試儀
              
                                                                        
              
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