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              距失效
              
                    
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    Document
    





    
              
        
              
            
              
                
              當前位置：材料測試 ?  現場/云現場 ? 
              
                
              TEM云現場/現場-成都限時特價
              
            
              
            
              
                
              
                    
              
                        
              
                            
              99.3%
              滿意度
              
                            
              

                                                            
              
                                    
                                
              


                            
              
                                
              TEM云現場/現場-成都限時特價
              
                                
                                
              
                                    
              已 預 約：
              
                                    
              17252次
              
                                
              
                                
              
                                    
              服務周期：
              
                                    
              平均4個工作日完成
              
                                
              
                                
              
                                        
              關聯搜索：
              
                                        
                                    
                                              

                                                                
              
                                                                                                                        
              
                                                立即下單
                                            
                                                                                          
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              如有各類設備采購需求，請聯系專屬顧問。
              
                            
              
                        
              

                        
                        
                        
                        
                        
                        
                        
                    
              

                    
                    
                    
                    
              
                            
                            
              
                                
              黃燕
              
                                
              TEM測試工程師
              
                                
              3年透射電鏡（TEM）測試及管理經驗。精通透射電子顯微技術，專長于材料微結構表征。
              
                            
              
                        
              

                    
              
                        
              項目介紹
              
                        
              1. 主要用于無機材料（粉體）微結構與微區組成的分析和研究，不適用于有機和生物材料；
              2. 表征范圍：微觀形貌、顆粒尺寸、微區組成、元素分布、晶體結構、相組成、結構缺陷、晶界結構和組成等；
              3. 成像：衍襯像、高分辨像（HRTEM）、掃描透射像；
              4. 微區成分： EDS 能譜的點、線和面分析，電子選區衍射。
              
                    
              
                    
              
                        
              樣品要求
              
                        
              注意：TEM云現場/現場機時有限，下單前請先跟工作人員聯系，溝通拍攝要求并確認預約時間后再下單！機時從抽真空開始計時收費，請悉知。
              1. 粉末5mg，液體0.5ml；不含易分解的有機物質；不含有毒有害物質；含有硫S單質樣品，無法拍攝；若樣品容易變質需要指明；液體請指明溶劑；
              2. 多數分子篩不穩定，拍不出清晰的晶格條紋；碳點和量子點的樣品尺寸小，拍攝效果與樣品質量關系非常大，請合理分析拍攝結果不符合預期的原因；
              3. 樣品拍攝圖片數量：TEM10張左右，HRTEM包含TEM共15張左右；
              4. 可接受非磁性和弱磁性樣品，弱磁樣品只接受粉末，方便判斷磁性的強弱。含鐵、鈷、鎳、錳、釕等磁性元素的樣品定義為磁性樣品；請仔細檢查樣品磁性，因隱瞞樣品信息導致儀器損壞的，需要您承擔全部賠償責任。
              
                    
              
                    
              
                            
              項目案例
              
                            
              













































                                                                    
              
                                            
                                            
              高分辨HRTEM
              
                                        
              
                                            
                                            
              衍射SAED
              
                                        
              
                                            
                                            
              點掃EDS
              
                                        
              
                                            
                                            
              線掃EDS
              
                                        
              
                                            
                                            
              面掃Mapping
              
                                        
              
                                            
                                            
              面掃Mapping
              
                                        
              
                                            
                                            
              Chemical Engineering Journal., 417 (2021) 128189： Li2Ti1/3Ni1/3Mn1/3O2F and Li2Ti1/3Ni1/3Fe1/3O2F
              
                                        
              
                                            
                                            
              TEM, HRTEM, and SAED characterizations of FeF3·0.33H2O
              
                                        
              
                            
              
                        
                                  
              
                            
              常見問題
              
                            
              
                                
              
                                        
              1、拍攝TEM樣品，分辨效果不好有哪些原因？
              
                                        
              可能是樣品太厚，TEM樣品厚度大于100nm時，電子束不易穿透，導致效果不好；
              可能樣品穩定性太差，拍攝高分辨的時候樣品易發生變化，導致拍攝只能以抓拍形式，清晰度會受影響，或者拍攝過程中樣品直接消失（例：拍攝由水熱法產生的碳的量子點，低倍時能看到量子點，在高倍拍攝晶格條紋時樣品在聚焦未完成時就消失了，在同一位置再調節到低倍拍攝，發現量子點消失）。
              
                                    
              
                                        
              2、 影響TEM成像的因素有哪些？
              
                                        
              主要有相位襯度（相位差引起）、振幅襯度（包括質厚襯度、衍射襯度），一般測試中主要考慮質厚襯度（質量、厚度），其中厚度又是主要的因素。
              
                                    
              
                                        
              3、明場像與暗場像成像的區別？
              
                                        
              明場像成像是將衍射束遮擋住，只讓透射束參與成像；暗場像成像是將透射束遮擋住，只讓一束較強的衍射束成像。由此可知，只有含有晶體類物質衍襯像，才存在明暗之分。
              
                                    
              
                                        
              4、為什么沒有N的樣品，能譜測試卻有很多N元素呢？
              
                                        
              在Mapping的測試中，C N O的分辨較差，在有氧的地方通常能掃出碳和氮，能譜下C N O三種元素不能很好的區分，會互相干擾，如果要進行N的測試，最好不用能譜，用EELS（電子能量損失譜）較好。
              
                                    
              
                                        
              5、為什么Mapping測試看起來不清晰？
              
                                        
              可能是因為含量低，在Mapping測試中，清晰度跟信號強度有關，而信號強度就是元素的含量。
              
                                    
              
                                        
              6、Mapping中，為什么有些部位很亮？
              
                                        
              太亮是因為X射線信號強，可能是樣品對電子散射能力強（重金屬元素常見），或者是樣品太厚（透射減少，反射增加）。
              
                                    
              
                                        
              7、EDS（EDX）與Mapping有什么區別？能譜中的K、L什么意思？
              
                                        
              EDS（EDX）與Mapping的本質一樣，Mapping就是EDS以掃描形式在樣品表面逐點進行。
              K L M是指測試時采用不同線系，一般采用K L，較輕的選K，較重的選L。
              
                                    
              
                                        
              8、為什么沒有DM3格式的圖片？
              
                                        
              現在FEI使用自己的CCD，沒有再用Gatan的CCD了，不能導出dm3文件，但是格式可以轉化。
              
                                    
                                          
              
                        
                                                  
              
                
            
              
        
              
        
        
              
            
              
                
              
                    
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